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研究研发

创新研究与开发

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二、标准的参与者

作为国内技术专家代表参与国际电工委员会的IEC62321标准修订;参与中国RoHS法规及合格评定制度的起草和GB/T33352国家标准的制定...

 
 

偏振二次靶技术专利,利用X射线荧光无损快速分析原理,搭载华唯独创的Visual FP基本参数法分析软件,能够快速准确对样品进行全元素成分分析。并独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,业内唯一,引领行业持续发展...

 

三、行业的引领者

四、服务的践行者

原厂配件,原厂服务,终身维修,2小时快速反应,工作曲线定制及专家审图解谱服务,全面快速解决您遇到的问题...

为什么选择华唯?

华唯技术团队从1986年开始承担并圆满完成了三项中国政府XRF科技攻关项目:国家“七五”科技攻关项目(EDXRF)、国家“九五”科技攻关项目(WDXRF)、国家“十一五”科技支撑项目(偏振二次靶EDXRF)...

 
 

一、技术的传承者

XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。华唯集结30年的技术积累,独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,业内唯一,华唯引领行业持续发展。

六大技术优势

基本参数法(FP法)是根据X射线荧光强度与元素含量、厚度等的函数关系,应用核物理、应用数学、计算机等领域内的前沿研究成果,依据X射线荧光激发样品物理机制所提供的数学校正方法,该测试方法适用于分析无标样或少标样的样品,在合金、陶瓷、多元半导体材料、考古、地质样品领域有广泛应用空间。

 

一、FP基本参数法

X射线经偏振靶偏振后,再作为激发光源照射到样品上,可以保证待测元素最佳激发状态,并减少散射和干扰,从而大大降低背景,提高测试灵敏度和信噪比。

 

二、偏振二次靶技术

由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,华唯以30年XRF领域研发积淀为基础,结合华唯人对XRF技术领域的卓越领悟力,华唯计量设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于环保无卤指令检测。

 

真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。

 
 
 

五、无标样技术 

采用行业领先的二次滤光技术,测试金属样品中的管控元素精度明显提高了1倍,同时灵活的滤光机构设计,可根据客户需求的侧重而定制滤光系统。

六、二次滤光技术

 

三、超短光路设计

四、精密机械设计

中心在技术领军人物刘小东先生的带领下,由数名毕业于国内知名院校及中科院系统的中高级人才组成,其中硕士及以上学历人才超过30%,广泛引进了包括核物理、凝聚态物理、基础数学、微电子设计、化学分析等方面的人才。

成立至今,已先后设计完成了Ux-210、Ux-220能量色散型XRF仪器,为数百家国内外客户提供了RoHS和无卤测试解决方案。2010年,研发中心在国内率先推出了偏振二次靶型能散产品——Ux-800P,该机型是深厚的XRF技术功底与数年积累的应用经验相结合的产物。

中心历时两年倾力打造的固定道波长色散型XRF仪器Ux-1000W,可以在60秒时间内同时完成多达10个元素的精确测试,充分满足水泥、玻璃、陶瓷、钢铁等行业的生产控制需求;并且在稳定性、准确性、易维护性、远程操作等方面较国内同类产品有不同程度的提高和突破。

研发中心成立至今已获得了数项实用新型专利、发明专利及自主版权专利。展望未来,华唯也将继续立足于在RoHS测试领域,积极开拓XRF技术在其他行业的应用,不断推出更好的、更有技术含量的产品,为产业健康发展助一臂之力。

刘小东,华唯研发总监

北京研发中心是华唯斥巨资着力打造的集产品研发与应用、技术服务与咨询为一体的研发分支机构。中心下设结构与外观设计、电路开发以及软件设计三个分支方向,承担着公司XRF产品的开发、推广、应用和服务等工作。并紧跟业界前沿动态,为公司产品战略发展提供依据。

 
 

华唯计量北京研发中心

 

 XRF领域技术专家  

1962年毕业于西安交通大学物理系反应堆工程专业,1982年赴日本东京大学工学部进行X射线荧光化学状态分析技术和高分辨X荧光光谱学研究,获博士学位。1984年回国后在中国建筑材料科学研究院工作,主要从事X荧光分析技术和工业过程自动控制技术等研究,并参与国家“七五”“九五”科技攻关,获得“多元素同位素X射线荧光分析仪”发明专利、“同位素X荧光水泥多种成分分析仪”专利和“用于同定性X荧光光谱仪的等光程双弯晶固定元素道分光器”专利,使X荧光多元素分析仪达到国际先进水平,是我国XRF行业带头人。

 

白友兆博士,首席技术总工程师

1991年毕业于北京大学物理系,1995年获中国建筑材料科学研究院无机非金属材料专业工学硕士学位。参与并担任国家“九五”科技攻关X荧光光谱仪攻关课题副组长和软件负责人,以及国家“十一五” 科技攻关项目XRF课题研发。获得“X荧光分析对有毒有害物质实时检测及控制系统”专利和“偏振二次靶能量色散型X射线荧光光谱仪”专利。作为我国最早的XRF技术项目的核心专家成员,长期在该领域从事技术研发和产业化工作,并逐步成长为我国XRF技术的最权威人士。