手机端
欢迎关注华唯官方微信或拨打400客服电话详询！
电话：400-678-8058
传真：0755-26511726
邮箱：Market@unique-mt.com
深圳总部
深圳市南山区高新园北区朗山一路6号意 中利科技园2号楼二楼
北京研发中心
北京市通州区金桥工业园环科中路16号 联东U谷中区70号楼2层
© 1986-2019 深圳市华唯计量技术开发有限公司 版权所有 粤ICP备17155365号 总机：0755-26511656 传真：0755-26511726
微信二维码
友情链接:
取得FP基本参数算法软件著作权
浏览量
FP（基本参数）算法是X射线荧光光谱分析的有效方法，能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析，也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。
众所周知，X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响（基体吸收和增强效应），与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中，已经考虑到了基体效应，可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系，使用少数已知样品校正算法去除系统误差，即可达到精确定量的目的。